Measuring circuit, and measuring apparatus using same

計測回路及びそれを用いた計測装置

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measuring circuit capable of reducing a mounting area for an LSI, and capable of compactifying also an apparatus, and the measuring apparatus using the same. <P>SOLUTION: The apparatus for measuring input energy of a radiation or the like is constituted of a detecting element group 19 for converting the input energy into an electric signal, an analog signal processing circuit 39 for short-wave-shaping the electric signal to generate a trigger signal of indicating that an input waveform exceeds a set threshold, and for holding a wave height value of a peak, an A/D converter 50 for converting the wave height value into a digital signal, and a digital signal processing circuit 79 for controlling the analog signal processing circuit 39 and the A/D converter 50, and for acquiring an input position and the wave height value to transmit data. The detecting element group 19 is formed into a micro strip type detecting element group with a detection range divided matrixlikely to output an X-axial detection signal 17 and a Y-axial detection signal 18 extended orthogonally each other, to reduce the number of input and output signal pins and the measuring circuits for the analog LSI and the digital LSI. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
【課題】入力エネルギーを計測する装置において、LSIの実装面積を削減すると同時に装置を小型化できる計測回路及びそれを用いた計測装置を提供する。 【解決手段】入力エネルギーを電気信号に変換する検出素子群19と、前記電気信号を波形整形して入力波形が設定した閾値を超えたことを示すトリガ信号を生成すると共にピークの波高値を保持するアナログ信号処理回路39と、前記波高値をデジタル信号に変換するA/D変換器50と、アナログ信号処理回路39とA/D変換器50を制御して入力位置と波高値を取得してデータを送出するデジタル信号処理回路79とで構成する。前記検出素子群19は、検出範囲をマトリクス状に分割して、互いに直交して延びるX軸検出信号17とY軸検出信号18が出力されるマイクロストリップ型検出素子群とし、アナログLSI及びデジタルLSIの入出力信号ピン数及び計測回路を削減する。 【選択図】図3

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